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中航期间仪器——ZJD-87型介电常数介质损耗系统

诈欺电桥测量介电常数或介质损耗的成果会受到一系列外界身分的影响，其中主要有：

——外界电磁场的热闹影响：

外界电磁场的热闹包括考试用高压电源和考试现场高压带电体(举例变电所内仍在运行的高压母线等)所引起的电场热闹，因为在这些高压源与电桥各元件偏激贯穿线之间存在着杂散电容，产生的热闹电流如流过桥臂就会引起测量邪恶。

另一方面，在现场测试条款下，电桥陆续处于一个相等权臣的交变磁场中，这时电桥接线内也会感应出一个热闹电势，对电桥的均衡产生影响，也将导致测量邪恶。

摒除上述两种热闹影响的最简短而灵验的主见是将电桥的低压臂和检流计(最佳能包括试品Cx和格式电容器CN接往电桥A、B两点的连线在内)一升引金属屏蔽网和屏蔽电缆线加以屏蔽，这么杂散电容引起的电流将不流过桥臂，从而能基本上摒除上述邪恶。

屏蔽系统恒与D点贯串，在图4-5的正接线中莫得画出，但可知屏蔽此时带地电位；而在图4-7的反接线中，屏蔽将带高电位，是以屏蔽对地(包括仪器的金属外壳)应有实足的绝缘。

——温度的影响：

温度对介电常数或介质损耗值的影响很大，具体的影响进度随绝缘材料和结构的不同而异。一般来说，介电常数或介质损耗随温度的增高而增大。现场考试时的绝缘温度是不一定的，是认为了便于相比，应将在多样温度下测得的介电常数或介质损耗值换算到20℃时的值。应该指出，由于试品里面的内容温度陆续很难测定，换算要领也不很准确，故换算后陆续仍有较大的邪恶。是以，介电常数或介质损耗的测量应尽可能在10~30℃的条款下进行。

——考试电压的影响：

一般来说，精熟的绝缘在额定电压边界内，其介电常数或介质损耗值果然保握不变，如图4-8中的弧线1所示。若是绝缘里面存在空闲或气泡时，情况就不同了，当所加电压尚不及以负气泡电离时，其介电常数或介质损耗值与电压的相插手精熟绝缘莫得什么隔离；但当所加电压大到能引起气泡电离或发生局部放电时，介电常数或介质损耗值即运转随U的升高而赶快增大，电压回落时电离要比电压飞腾时更强一些，因而会出现闭环状弧线，如图4-8中的弧线2所示。若是绝缘受潮，则电压较低时的介电常数或介质损耗值就已相等大，电压升高时，介电常数或介质损耗更将急剧增大；电压回落时，介电常数或介质损耗也要比电压飞腾时更大一些，因而酿成不闭合的分叉弧线，如图4-8中的弧线3所示，主要原因是介质的温度因发烧而普及了。

求出介电常数或介质损耗与电压的相干，有助于判断交缘的情景和流毒的类型。

——试品电容量的影响：

关于电容量较小的试品(举例套管、互感器等)，测量介电常数或介质损耗能灵验地发现局部集会性流毒和举座分散性流毒。但对电容量较大的试品（举例大中型发电机、变压器、电力电缆、电力电容器等），测量介电常数或介质损耗只可发现举座分散性流毒，因为局部集会性短方位引起的介质损耗增大值这时只占总损耗的一个很小的部分，因而用测量介电常数或介质损耗的要领来判断交缘情景就很不贤慧了。关于不错看法成几个彼此绝缘部分的被试品，可分辩测量其各个部分的介电常数或介质损耗值，能更灵验地发现流毒。

——试品名义潜入的影响：

试品名义泄走电阻老是与试品等值电阻Rx并联着，彰着会影响所测得的介电常数或介质损耗值，这在试品的Cx较小时尤需扫视。为了排除或减小这种影响开云体育，在测试前应撤销绝缘名义的积污和水分，必要时还可在绝缘名义上装设屏蔽极。